Bilt appliqué aux bancs de stress pour
composants électroniques

         PC

Le banc de stress électrique et thermique est le cœur de métier de iTest :


Les marchés concernés sont principalement la recherche, la production et l'intégration de composants haut de gammes, en série limitée.

La surveillance rigoureuse des paramètres en cour de vieillissement est toujours requise. La mesure des caractéristiques fonctionnelles se fait si possible directement sur le banc de stress, si non en reprise sur un banc de mesure individuel.

iTest possède une longue expérience et un savoir faire reconnu pour réaliser les différentes fonctions d'un banc de stress :

  • Electronique de contrôle du banc de test réalisée avec le système modulaire Bilt.
  • Mise en oeuvre thermique avec des solutions embase contrôlée ou étuve aménagéex
  • Câblage, support ou plateau de test, adaptation mécanique, intégration
  • Logiciel de supervision modulaire commun à toutes les applications: EasyStress

Notre approche se distingue des solutions habituellement proposées du fait de la souplesse apportée par le système Bilt :

  • Modularité exceptionnelle du système :
    Construction d'une configuration par simple combinaison de nos sources DC, générateurs de signaux, contrôleurs thermique...
  • EasyStress, logiciel PC de supervision dédié au test de composants :
    Supporte toutes les configurations matérielles. Configurable en quelques clics pour réaliser n'importe quel type d'essais. Monitoring, récupération des données mémoires et historiques...
  • Processus de contrôle sécurisé :
    Contrôle temps réel et mémorisation déportés dans chaque châssis Bilt pour une fiabilité maximale. Autonomie du système vis à vis du PC.
  • Facilité d'intégration de fonctions spécifiques :
    Un module développé pour le besoin particulier d'un client prendra naturellement sa place dans le châssis Bilt à coté des modules standard, pour obtenir un produit fini homogène.


Dans tous les cas, la fiabilité et la pérennité des systèmes proposés sont renforcées du fait de l'utilisation pour tous les clients d'exactement la même plate-forme matérielle et logicielle.

iTest peut proposer tout type d'application, quelque soit le degré d'implication demandé, de la simple fourniture d'un châssis Bilt, jusqu'au développement d'un système complet en offrant tout le service de conception sur mesure et d'assistance pour la mise en oeuvre.

Prestations associées :

  • Baie de test électronique intégrée avec faisceau de câbles spécifique.
  • Plateau de Burn-In, Cartes fond de panier, cartes support.
  • Fonctions électroniques rapprochées (pulseur, pattern haut débit).
  • Aménagement d'étuve avec traversées étanches par circuit imprimé.
  • Supports thermiques, embase chauffante, éléments Peltier.
  • Supports mécaniques dédiés, éléments de serrage, éléments d'automatisme.
  • Banc auxiliaire de vérification, auto-test de plateaux avec pattern de test.
►Voir aussi : Supports Thermiques pour Burn-in / Life-test.
►Voir aussi : Contrôle embarqué autonome et sécurisé.


Exemples d'applications développées par iTest :


Banc de stress pour transistors et MMIC RF polarisés en DC
(HBT, FET, AsGa, GaN)
exemples de configurations et d'options:
  • Haute densité de signaux petite puissance, montage en étuve
  • Fonctionnement statique ou pulsé
  • Cyclage thermique, cycles ON/OFF
  • Couplage drain / grille pour asservissement à puissance dissipée constante
  • Composants de puissance avec contrôle thermique individuel
  • Tracés in situ des caractéristiques de type I(V)
Banc de stress actifs pour amplificateurs RF
(HBT, FET, AsGa, GaN)

exemples de configurations et d'options:

  • Fonctionnement statique ou pulsé
  • Cyclage thermique, cycles ON/OFF
  • Asservissement à puissance dissipée constante ou à puissance RF constante
  • Composants de puissance avec contrôle thermique individuel
  • Tracés in situ des caractéristiques de type I(V) et G(P)
Banc de déverminage et de test pour
composants hybrides RF embarqués

exemples de configurations et d'options:

  • Composants de puissance avec contrôle thermique individuel
  • Cyclage thermique, cycles ON/OFF
  • Génération d'horloges, programmation série, parallèle, commutation de mode
  • Fonctionnement statique ou à régime de courant commuté
Banc de stress pour circuits intégrés numériques / analogiques
(Processeur, Mémoire, FPGA, Imagerie,)
exemples de configurations et d'options:
  • Haute densité de signaux petite puissance
  • Alimentation très basse tension avec fort courant commuté
  • Génération d'horloges, programmation série, commutation de mode
  • Génération de pattern parallèle haut débit
  • Aménagement d'étuve et de supports de production
  • Banc annexe de contrôle des plateaux de Burn-In avec pattern de test
Banc de stress
pour diodes Laser

exemples de configurations et d'options:

  • Fonctionnement statique ou pulsé, cyclage thermique, cycles ON/OFF
  • Asservissement à puissance dissipée constante ou à puissance optique constante
  • Composants de puissance avec contrôle thermique individuel
  • Tracés in situ des caractéristiques de type P(i) et V(i)
Banc de stress
pour résistances haute fiabilité

Très large domaine de fonctionnement tension et courant

Banc de stress et de caractérisation
pour transistors expérimentaux

exemples de configurations et d'options:

  • Haute densité de signaux petite puissance, montage en étuve
  • Cyclage thermique, cycles ON/OFF
  • Tracés in situ des caractéristiques, commutation d'instruments de mesure





mail  Nous contacter...


fleche      Châssis Bilt
flecheModules Bilt
fleche           Câbles
Etuve Aménagée
                   
 
© iTest 2017 - Mentions légales - Entreprise / contact - English Version English Version - Conditions générales de vente
Ce site est édité par la société iTest SARL (coordonnées/contact).
Les informations contenues dans ce site sont données à titre purement informatif. Itest met tout en oeuvre pour contrôler ces données et maintenir ce site à jour.
Cependant, itest décline toute responsabilité pour tout dommage pouvant résulter de l'exploitation de ces données dans le cas où une erreur,
un défaut de mise à jour ou une inexactitude se serait glissé.
L’ensemble des marques et logos cités sur le site d'iTest sont la propriété légale de leurs détenteurs et ne confèrent aucun droit aux utilisateurs du site.